• Medição confiável e repetível das características dinâmicas dos semicondutores de potência de banda larga (SiC, GaN).
• As características medidas incluem, ligação, desligação, comutação, recuperação reversa, carga do portão e muitos outros.
• O ambiente de ensaio do SAT para o DUT e para o utilizador.
• A plataforma modular, expansível e atualizável, permite testar todos os dispositivos de energia.

Como uma solução de medição disponível, o PD1500A fornece medições confiáveis e repetíveis de semicondutores de banda larga.A plataforma garante a segurança do utilizador e a protecção do equipamento de medição do sistema.

A capacidade de garantir resultados repetíveis de DPT baseia-se na experiência da Keysight na ciência da medição.baixa fuga (intervalo femtoampere)Como resultado, o Keysight está posicionado de forma única para ajudá-lo a superar os desafios da caracterização de semicondutores de potência dinâmica.

Incluídos no PD1500A estão as técnicas de medição padrão, como compensação de sonda, ajuste de deslocamento, desvio e rejeição de ruído de modo comum.Estas técnicas são utilizadas dentro de uma topologia de medição inovadora e layoutUma rotina de calibração semiautomática (AutoCal) que corrige os erros de ganho e de compensação do sistema foi desenvolvida especificamente para este sistema.O sistema também usa técnicas de desincorporação para compensar os parasitas indutivos no desvio atual.

A JEDEC é líder mundial no desenvolvimento de padrões abertos e publicações para a indústria da microeletrónica.Os comités do JEDEC são líderes da indústria no desenvolvimento de normas para uma ampla gama de tecnologias.

Comité JEDEC: JC-70 Semicondutores de conversão electrónica de potência de banda larga
Os padrões JEDEC reconheceram a necessidade de fornecer padrões WBG para a indústria de semicondutores de energia.o JC70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductor committee foi formado para ambos os GaN JC70.1 e SiC JC-70.2 Cada secção tem três grupos de trabalho, centrados nos procedimentos de fiabilidade e qualificação, elementos e parâmetros das fichas de dados e métodos de ensaio e caracterização.

A Keysight participa activamente no desenvolvimento destas normas.

Como o JEDEC continua a definir o teste dinâmico de dispositivos WBG, alguns testes padronizados estão começando a surgir.

• Características de ligação
• Características de desligamento
• Resistência dinâmica
• Corrente e tensão dinâmicas
• Características de comutação
• Recuperação inversa
• Taxa de entrada
• Características de saída derivadas