• Medição confiável e repetível das características dinâmicas dos semicondutores de potência de banda larga (SiC, GaN) para dispositivos discretos e módulos de potência.
• As características medidas incluem ligação, desligação, comutação, recuperação reversa, carga do portão e muitos outros.
• Proba de isolamento de pulso verdadeiro para medir o dispositivo de lado superior de um módulo de energia.
• Tecnologia de contacto sem solda para resultados repetíveis e fiáveis sem solda.
• Ambiente de ensaio seguro tanto para o DUT como para o utilizador.
• Plataforma modular personalizável, expansível, atualizável, que permite testar todos os dispositivos de energia.

Como uma solução de medição disponível, o PD1550A fornece medições confiáveis e repetíveis de módulos de energia semicondutores de banda larga.A plataforma garante a segurança do utilizador e a protecção do equipamento de medição do sistemaA capacidade de garantir resultados repetíveis e confiáveis do teste de duplo pulso (DPT) baseia-se nos mais de 80 anos de experiência da Keysight na ciência da medição.Com a experiência adquirida através do trabalho em estreita colaboração com clientes e organizações de normalização com o PD1500A, a Keysight está agora a ajudar os clientes a superar os desafios da caracterização dinâmica dos módulos de potência WBG.baixa fuga (intervalo femtoampere)Como resultado, o Keysight está posicionado de forma única para ajudá-lo a superar os desafios da caracterização de semicondutores de potência dinâmica.

Incluídos no PD1550A estão as técnicas de medição avançadas padrão, como compensação de sonda, ajuste de deslocamento, desvio e rejeição de ruído de modo comum.Estas técnicas são utilizadas dentro de uma topologia de medição inovadora e layoutUma rotina de calibração semi-automática (AutoCal) que corrige os erros de ganho e de compensação do sistema foi desenvolvida especificamente para este sistema.O sistema também usa técnicas de desincorporação para compensar os parasitas indutivos no desvio atualA tecnologia True Pulse Isolate Probe para medições precisas de Vgs de lado alto e a tecnologia de contato sem solda permitem medições confiáveis repetíveis sem ter que soldar grandes almofadas de contato.

O Conselho Conjunto de Engenharia de Dispositivos Eletrônicos (JEDEC) é líder mundial no desenvolvimento de padrões e publicações abertos para a indústria de microeletrônica.Os comités do JEDEC são líderes da indústria no desenvolvimento de normas para uma ampla gama de tecnologias.

Comité JEDEC: JC-70 Semicondutores de conversão electrónica de potência de banda larga
Os padrões JEDEC reconheceram a necessidade de fornecer padrões WBG para a indústria de semicondutores de energia.o JC70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductor committee foi formado para ambos os GaN JC70.1 e SiC JC-70.2 Cada secção tem três grupos de trabalho, centrados nos procedimentos de fiabilidade e qualificação, elementos e parâmetros das fichas de dados e métodos de ensaio e caracterização.

A Keysight participa activamente no desenvolvimento destas normas.

Como o JEDEC continua a definir o teste dinâmico de dispositivos WBG, alguns testes padronizados estão começando a surgir.

• Características de ligação
• Características de desligamento
• Resistência dinâmica
• Corrente e tensão dinâmicas
• Características de comutação